Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
Unifikovaný rad testovacích št...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
Unifikovaný rad testovacích štruktúr umiestnených do deliaceho rámika unipolárnych VLSI obvodov
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Adamčík, Ivan
(Autor)
,
Malý, Ľudovít
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
slovenčina
Fyzický popis:
Obr. 3., lit. 2 zázn. v angl.
Predmet:
obvody VLSI unipolárne
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Fyzický popis:
Obr. 3., lit. 2 zázn. v angl.
Podobné exempláre
Návrh a vlastnosti unipolárnych zákazníckych integrovaných obvodov
Autor: Áč, V.
Aplikácie paralelných počítačov v automatizácii návrhu VLSI
Autor: Benetir, M., a ďalší
Skorooptimálne VLSI algoritmy pre výber l-tého minimálneho čísla
Autor: Vrťo, Imrich, 1953-
Some complexity aspects of VLSI computations. Part 5. Nondeterministic and probabilistic VLSI circuits
Autor: Hromkovič, Juraj, 1958-
Integrované obvody 1
Autor: Csabay, Otto, 1937-2013
Vydavateľské údaje: (2001)