A Built-in Current Sensor for Iddq Testing of CMOS Integrated Circuits

Bibliographic Details
Main Authors:	Stopjaková, Viera, 1968- (Author), Špaček, Vladimír (Author), Weber, Bedřich (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak English
Subjects:	obvody integrované CMOS testovanie obvodov snímače elektrického prúdu články z novín a časopisov

Similar Items