The influence of radiation stimulated gettering on the reliability of silicon device structures
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Slovak English |
| PhysicalDescription: | Grafy 2, lit. 4 zázn. v angl., ruš. |
| ISSN: | 0013-578X |
| Subjects: |
Similar Items
The Use of Local Electron Beam for Porosity Estimation
by: Poljakov, V. N.
by: Poljakov, V. N.
Zväzky elektrónov pomáhajú zlepšovať pracovné prostredie lakovníkov
by: -f-
by: -f-
Funkčné vrstvy nanesené koncentrovanými energetickými zdrojmi
by: Styk, Ján, 1942 15. február-
by: Styk, Ján, 1942 15. február-
Survey of actual applications of elektron-beam and laser-beam techniques
by: Dobmeier, U., et al.
by: Dobmeier, U., et al.
