Determination of Carrier Concentration Profile of MOS (pn) Structures by the Capacitance Technique

Bibliographic Details
Main Authors: Kinder, Rudolf (Author), Hulényi, Ladislav, 1938- (Author)
Format: Article
Language:Slovak
English
PhysicalDescription:Obr. 4, lit. 7 zázn. v angl.
ISSN:0013-578X
Subjects:

MARC

LEADER 00000nab a2200000 a 4500
001 vtls000640745
003 SK-MaSNL
005 20260304083827.0
008 250425c1997 xo 0 slo
015 |a SNBRB19rr/mm-uuuuu 
035 |a CL0640884 
035 |a urn:nbn:sk:snk-abh51 
035 |a (urnnbn)urn:nbn:sk:snk:ar-a03s27 
035 |a (uuid)c06537b3-9457-4b1b-b32c-4d3d6f19df56 
040 |a SNKBUCL  |b slo  |c SNKBUCL  |e AACR2 
041 0 |a eng 
044 |a xo  |c SK 
080 |a 621.3.049.77:621.317.33  |2 1981 
080 |a 621.317.33  |2 1981 
080 |a 621.382.049.77  |2 1981 
100 1 |a Kinder, Rudolf  |4 aut  |9 626961 
245 1 0 |a Determination of Carrier Concentration Profile of MOS (pn) Structures by the Capacitance Technique  |c Rudolf Kinder, Ladislav Hulényi 
300 |b Obr. 4, lit. 7 zázn. v angl. 
500 |a Životopisné údaje 
650 0 7 |a štruktúry MOS  |2 snkbucl  |9 1375235 
650 0 7 |a priechody p-n  |2 snkbucl  |9 1143014 
650 0 7 |a reaktancia kapacitná  |2 snkbucl  |9 991918 
655 7 |a články z novín a časopisov  |2 snkbucl  |9 267496 
700 1 |a Hulényi, Ladislav,  |d 1938-  |4 aut  |9 16540 
773 0 |t Journal of electrical engineering  |g Roč. 48, č. 7-8 (1997), s. 205-208  |x 0013-578X 
850 |a Slovenská národná knižnica 
852 |a Slovenská národná knižnica 
958 |a article27 
958 |a NB 
958 |a RK 
958 |a OND 
958 |a EUIPO 
999 |c 2801418  |d 2803348