Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Test Generation Based on the F...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Test Generation Based on the Functionality Fault Model
Bibliographic Details
Main Authors:
Žemva, Andrej
(Author)
,
Zajc, Baldomir
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
Subjects:
obvody integrované číslicové
chyby
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Jakubovskij, S. V. a kol.: Analógové a číslicové integrované obvody
by: Slípka, Jaroslav, et al.
Diagnostika číslicových systémov
by: Hodál, Ján
Metody řízení paralelní simulace
by: Polaczek, L., et al.
Rýchla univerzálna pin-elektronika
by: Boledovič, Marián
Číslicové IO z GaAs zhotovené selektivní ipmplantační technikou ; Josef Chmel, Stanislav Jelínek, Dušan Krásničan, Jaroslav Merta, Jiří Tomek, Zdeňek Výborný
by: Chmel, Josef, et al.