Edge Effects on Contact Resistance Measurement by Transmission Line Model Method
| Hlavní autori: | , |
|---|---|
| Médium: | Článok |
| Jazyk: | slovenčina angličtina |
| PhysicalDescription: | Grafy 2, obr. 1, tab. 1, lit. 2 zázn. v angl., češ. |
| ISSN: | 0013-578X |
| Predmet: |
Podobné exempláre
Contact Resistance Measurement by TLM Method
Autor: Macháč, Petr, a ďalší
Autor: Macháč, Petr, a ďalší
Ion implanted ohmic contacts to AlGaN/GaN structures
Autor: Boratyński, Bogusław, a ďalší
Autor: Boratyński, Bogusław, a ďalší
Stará papierová kartotéka už je "out"
Non Contact Measurement of Resistivity by Measuring Circuits Parameters
Autor: Bartušek, K., a ďalší
Autor: Bartušek, K., a ďalší
