Influence of the Meyer-Neldel rule on charge deep level transient spectra

Bibliographic Details
Main Authors:	Kluvánek, Peter, 1974- (Author), Barančok, Drahoslav, 1945-2006 (Author), Nádaždy, Vojtech, 1961- (Author)
Format:	Article
Language:	Slovak English
Subjects:	spektroskopia DLT > pravidlo Meyerove-Neldelove > simulácia počítačová štruktúry MOS články z novín a časopisov

Similar Items