Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Anodic dissolution of silicon...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Anodic dissolution of silicon by electrochemical carrier concentration profiling
Bibliographic Details
Main Authors:
Kinder, Rudolf, 1940-
(Author)
,
Breza, Juraj, 1951-
(Author)
,
Mika, Fedor, 1949-
(Author)
,
Grmanová, Alena
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
English
Subjects:
polovodiče
>
kremík
>
rozpúšťanie anodické
>
nosiče
>
koncentrácia
>
profilovanie
>
metóda kapacitno-napäťová elektrochemická
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Determination of doping profiles by an automated electrochemical capacitance-voltage technique
by: Kinder, Rudolf, 1940-, et al.
Analýza využitia kapacitných metód pri určovaní koncentračných profilov nosičov náboja, štruktúr MOS s implantovanou vrstvou operačného typu vodivosti ako substrát
by: Kinder, R.
Determination of carrier profiles on bevelled GaAs structures by PCIV method
by: Kinder, Rudolf, 1940-, et al.
Vyhodnocovanie koncentračných profilov v GaAs kapacitnou metódou
by: Hulényi, Ladislav, 1938-, et al.
Traps in Proton Irradiated Silicon Characterized by Deep Level Transient Spectroscopy
by: Nágl, Viliam, et al.