Skip to content
Book Bag:
0
items
(Full)
Login
Language
English
Slovak
Catalog
Catalog Books
Articles
Catalog ONDV
Catalog OND
All Fields
Title
Author
Subject
Call Number
ISBN/ISSN
Find
Advanced
Microstructural characterisati...
Cite this
Print
Export Record
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Add to Book Bag
Remove from Book Bag
Permanent link
Microstructural characterisation of multilayer material by combination of X-ray diffraction and electron microscopy
Bibliographic Details
Main Authors:
Kok, K.Y
(Author)
,
Leake, J.A
(Author)
Format:
Article
Language:
Slovak
English
Subjects:
materiály kovové viacvrstvové
>
difrakcia röntgenová
>
mikroskopia elektrónová
difrakcia röntgenová
elektrónová mikroskopia
články z novín a časopisov
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Holdings
Description
Similar Items
Staff View
Similar Items
Srovnání rentgenografického určení hustoty dislokací s hodnotami získanými TEM při únavovém namáhání oceli 16 236
by: Neumann, J., et al.
Texture of the steels studied by the neutron and X-ray diffraction method
by: Černík, M., et al.
Texture of equal channel angular pressed Cu investigated by electron back scatter diffraction and X-ray diffraction
by: Kopacz, Ireneusz, et al.
Texture of equal channel angular pressed Cu investigated by electron back scatter diffraction and X-ray diffraction
by: Kopacz, Ireneusz, et al.
Sledování struktury konstrukčních materiálů a její degradace rtg difrakcí
by: Fiala, Jaroslav, et al.
