Microstructural characterisation of multilayer material by combination of X-ray diffraction and electron microscopy

Podrobná bibliografia
Hlavní autori: Kok, K.Y (Autor), Leake, J.A (Autor)
Médium: Článok
Jazyk:slovenčina
angličtina
PhysicalDescription:Grafy, obr., tab.
ISSN:1335-1532
Predmet:
Popis
Fyzický popis:Grafy, obr., tab.
ISSN:1335-1532
Bibliografia:Res. angl.
Bibliogr. odkazy