SPECTROELLIPSOMETRIC CHARACTERIZATION OF ION IMPLANTED SEMICONDUCTORS AND POROUS SILICON

Podrobná bibliografia
Hlavní autori:	Lohner, T. (Autor), Khánh, N. Q. (Autor), Zolnai, Zs (Autor)
Médium:	Článok
Jazyk:	slovenčina angličtina

Podobné exempláre