Preskočiť na obsah
Košík:
0
záznamov
(Plný)
Prihlásiť
Jazyk
Anglický
Slovenský
Katalóg
Katalóg monografií
Katalóg článkov
Katalóg voľných diel
Katalóg obchodne nedostupných diel
Všetko
Názov
Autor
Predmet
Signatúra
ISBN/ISSN
Hľadať
Pokročilé
ANALYSIS OF THIN FILMS BY OPTI...
Vytvoriť citáciu
Vytlačiť
Exportovať záznam
Export to MARC
Export to BibTeX
Export to Jednoduchý textový výpis
Export to ISBD (text)
Export to Citácia ISO 690 (HTML)
Export to Citácia ISO 690 (.doc)
Pridať do košíka
Odobrať z košíka
Trvalý odkaz
ANALYSIS OF THIN FILMS BY OPTICAL MULTI-SAMPLE METHODS
Podrobná bibliografia
Hlavní autori:
Franta, D.
(Autor)
,
Ohlídal, Ivan, 1945-
(Autor)
Médium:
Článok
Jazyk:
slovenčina
angličtina
Pozri predplatné
Predplatné
Kliknite na „Pozri predplatné“.
Exempláre
Popis
Podobné exempláre
UNIMARC/MARC
Popis
Žiadný popis.
Podobné exempláre
COMBINATION OF OPTICAL METHODS AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY AT CHARACTERIZATION OF THIN FILM SYSTEMS
Autor: Ohlídal, Ivan, 1945-, a ďalší
ELLIPSOMETRY OF THIN FILMS
Autor: Ohlídal, Ivan, 1945-, a ďalší
MATRIX FORMALISM FOR IMPERFECT THIN FILMS
Autor: Ohlídal, Ivan, 1945-, a ďalší
OPTICAL CONSTANTS OF ZnTe AND ZnSe EPITAXIAL THIN FILMS
Autor: Franta, D., a ďalší
THIN FILM SOLAR CELLS AND THEIR OPTICAL PROPERTIES
Autor: Pinčík, E., a ďalší
